JIS C5401-4-001-2005 电子设备连接器.第4-001部分:有质量评定的印制电路板连接器.空白详细规范
时间:2024-04-29 19:15:44 来源: 标准资料网 作者：标准资料网 阅读：9648
【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment--Part4-001:PrintedBoardConnectorswithassessedquality--BlankDetailSpecification
【原文标准名称】:电子设备连接器.第4-001部分:有质量评定的印制电路板连接器.空白详细规范
【标准号】:JISC5401-4-001-2005
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,JISC5401-4を品種別通則とするブランク個別規格で,電子機器及び電子機器に使用するブリント配線板用コネクタについて規定する。
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_20
【页数】:64P;A4
【正文语种】:日语
Product Code:SAE AMS4127
Title:Aluminum Alloy, Forgings and Rolled Or Forged Rings, (6061-T6) Solution and Precipitation Heat Treated
Issuing Committee:Ams D Nonferrous Alloys Committee
Scope:This specification covers an aluminum alloy in the form of die forgings, hand forgings, forged rings, rolled rings, and stock for forgings and rings.【英文标准名称】:Semiconductordevices-TimeDependentDielectricBreakdown(TDDB)testforgatedielectricfilms(IEC62374:2007);GermanversionEN62374:2007
【原文标准名称】:半导体器件.与时间有关的栅极介电薄膜的介质击穿(TDDB)试验
【标准号】:EN62374-2007
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:2008-02
【实施或试行日期】:2008-02-01
【发布单位】:欧洲标准学会(EN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:击穿;检验设备;元部件;定义;介质;电气工程;电子设备及元件;外壳;故障;大门;热室;寿命(耐久性);测量技术;半导体器件;应力;测试;测试装置;与时间有关的;电压;电压应力
【英文主题词】:Breakdown;Checkingequipment;Components;Definition;Definitions;Dielectric;Electricalengineering;Electronicequipmentandcomponents;Enclosures;Failure;Gates;Heatingchamber;Life(durability);Measuringtechniques;Semiconductordevices;Stress;Testing;Testingdevices;Time-dependent;Voltage;Voltagestress
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:24P.;A4
【正文语种】:英语