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【英文标准名称】:Durumwheatsemolinas-Determinationoftheundersizefraction
【原文标准名称】:硬质小麦粗粉筛下物的测定
【标准号】:ISO15793-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(ISO)
【起草单位】:ISO/TC34
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:植物栽培;细粒谷类;硬粒小麦;农业;测定;含量测定;小麦;谷类作物;颗粒;农产品;食品;工作特性;面粉;屏蔽
【英文主题词】:Agriculturalproducts;Agriculture;Cereals;Determination;Determinationofcontent;Durumwheat;Foodproducts;Grain;Performancecharacteristics;Plantcultivation;Screening;Semolina;Undersizegrains;Wheat
【摘要】:ThisInternationalStandardspecifiesamethodforthedeterminationoftheundersizefractionofdurumwheatsemolinas,whichisanimportantcharacteristic.Itisapplicabletosamplesofatleast1kgofdurumwheatsemolinaobtainedsolelybycomminution,withoutsubsequentcombination,havingamoisturecontenthigherthan10%andpackagedinfullyfilledairtightpackaging.Itisnotapplicabletodeterminationscarriedoutusingsievesofaperturesizebelow160um.NOTEDeterminationoftheundersizefractionissometimestermed"granulationofsemolinas".
【中国标准分类号】:X11
【国际标准分类号】:67_060
【页数】:7P;A4
【正文语种】:英语


【英文标准名称】:Discretesemiconductordevicesandintegratedcircuits-Blankdetailspecificationforlightemitting/infraredemittingdiodeswith/withoutpigtailforfibreopticsystemsandsub-systems
【原文标准名称】:分立半导体器件和集成电路.光纤系统和分系统用带/不带引线的发光二极管/红外发射二极管的空白详细规范
【标准号】:BSIEC60747-12-1-1999
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1999-03-15
【实施或试行日期】:1999-03-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:资格鉴定;半导体二极管;集成电路;红外线辐射;二极管;检验;发光二极管;试验条件;光电子器件;认可试验;详细规范;质量保证体系;评估的质量;电气试验;质量评估;电子设备及元件;半导体器件;规范(验收);纤维光学
【英文主题词】:Detailspecification;Diodes;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Indicators;Infraredemittingdiodes;LED;Light-emittingdevices;Opticalwaveguides;Optoelectronics;Sectionalspecification
【摘要】:Thisblankdetailspecificationisoneofaseriesofblankdetailspecificationsforsemiconductordevices.
【中国标准分类号】:L53
【国际标准分类号】:31_260
【页数】:16P;A4
【正文语种】:英语